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光谱仪的基本准则是什么?
点击数: 发布时间:2018-11-19 02:00:56

  随着科技的快速发展,光谱仪的实际工作中被测量的样品,往往其成份是由多种元素组成,除待测元素以外的元素统称为基体。下面小编来详细给大家讲解一下。。。

由于被测量的样品中,其基体成份是变化的(这个变化一是指元素的 变化,二是指含量的变化),它直接影响待测元素特征X射线强度的测量。换句话说,待测元素含量相同,由于其基体成份不同,测量到的待测元素特征X射线强度 是不同的,这就是基体效应。基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。

  基体效应是个无法避免的客观事实,其物理实质是激发(吸收)和散射造成特征X射线强度的变化,除待测元素外,基体成份中靠近待测元素的那些元素对激发源的 射线和待测元素特征X射线产生光电效应的几率比轻元素(在地质样品中一些常见的主要造岩元素)的几率大得多,也就是这些邻近元素对激发源发射的X射线和待 测元素的特征X射线的吸收系数比轻元素大得多;轻元素对激发源放出的射线和待测元素的特征X射线康普顿散射几率比重元素大得多。

  为了叙述方便,假 设样品中存在待测元素A,相邻元素B、C和轻元素。B元素的原子序数比A元素的原子序数大一些,B元素能被放射源放出的射线所激发产生B元素的特征X射线 BK,BKX射线又能激发A元素;C元素的原子序数小于待测元素A的原子序数,且能被A元素特征X射线所激发产生C元素特征X射线;轻元素的原子序数测距 A、B、C元素的原子序数较远,被激发的几率很小,可以忽略不计,那么对待测元素A特征X射线强度的影响有以下几个方面:

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